|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Influence of the small magnetic contributions to susceptibility on the angular dependencies of X-ray resonant magnetic reflectivityстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Andreeva M.A., Odintsova E.E.
- Журнал: JETP Letters
- Том: 93
- Номер: 2
- Год издания: 2011
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 75
- Последняя страница: 79
- DOI: 10.1134/S0021364011020020
- Аннотация: The Xray resonant magnetic scattering (XRMS) method allows for the determination of optical constants including magnetic corrections, which are significant near the atomic Xray absorption edges, by the shift of the Bragg angle of the reflection from periodic multilayers. Recently, Valvidares et al. [Phys. Rev. B 78, 064406 (2008)] revealed significant differences in the shape of “magnetic” Bragg reflection peaks from a [Co73Si27(50 Å)/Si(30 Å)]10 film for two opposite states of antiferromagnetic interlayer ordering. Valvidares et al. assumed that these features can be explained by the presence of the reflectioninduced magnetic resonance correction. We have demonstrated that such corrections in the case of antiferromagnetic structures do not lead to a shift of the Bragg peak, but the shape of magnetic peaks is explained by the interference of the magnetic and nonmagnetic reflection amplitudes.
- Добавил в систему: Андреева Марина Алексеевна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | JETL_2011_75_ang.pdf | JETL_2011_75_ang.pdf | 200,7 КБ | 29 мая 2015 [AndreevaMA] |