Probing the density of states of two-level tunneling systems in silicon oxide films using superconducting lumped element resonatorsстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 ноября 2019 г.

Работа с статьей


[1] Probing the density of states of two-level tunneling systems in silicon oxide films using superconducting lumped element resonators / S. T. Skacel, C. Kaiser, S. Wuensch et al. // Applied Physics Letters. — 2015. — Vol. 106, no. 2. — P. 022603. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть