Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Spectroscopic ellipsometry of slightly inhomogeneous thin films: application of the new approximation for the ellipsometric angles and
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 9 июня 2016 г.
Авторы:
Tikhonravov A.V.
,
Trubetskov M.K.
,
Krasillnikova A.V.
,
Masetti E.
Сборник:
Optical Interference Coatings, Technical Digest Series (Optical Society of America)
Том:
9
Год издания:
1998
Место издания:
Washington DC
Первая страница:
141
Последняя страница:
143
Добавил в систему:
Тихонравов Александр Владимирович