AFM and XPS investigations of silica films manufactured by sol-gel method and ion spatteringтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.

Работа с тезисами доклада


[1] Kanunnikova O. M., Lomayeva S. F., Muravyev A. E. Afm and xps investigations of silica films manufactured by sol-gel method and ion spattering // Proceedings of International Workshop “Scanning probe microscopy”, Nizhny Novgorod. — Nizhny Novgorod, 2004. — P. 2–6.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть