|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Structure and characteristics of silicon probe tips for atomic force microscopy after plasma treatmentстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 января 2020 г.
- Авторы: Bystrov S.G., Shakov A.A., Zhikharev A.V.
- Журнал: PHYSICS OF LOW-DIMENSIONAL STRUCTURES
- Номер: 5/6
- Год издания: 2002
- Первая страница: 47
- Последняя страница: 54
- Добавил в систему: Жихарев Александр Владимирович