Structure and characteristics of silicon probe tips for atomic force microscopy after plasma treatmentстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 января 2020 г.

Работа с статьей


[1] Bystrov S. G., Shakov A. A., Zhikharev A. V. Structure and characteristics of silicon probe tips for atomic force microscopy after plasma treatment // PHYSICS OF LOW-DIMENSIONAL STRUCTURES. — 2002. — no. 5/6. — P. 47–54.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть