|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Применение эмиссионной микроскопии для изучения механизма диффузиистатья
- Авторы: Петров В.С., Шлыков А.А., Ерофеев А.Е., Бекман И.Н.
- Сборник: Научно-технический сборник "Электронная техника"
- Том: 7
- Год издания: 1972
- Место издания: Материалы
- Первая страница: 125
- Последняя страница: 151
- Добавил в систему: Бекман Игорь Николаевич