Similarities between amorphous and microcrystalline forms of hydrogenated silicon from periodic DFT modeling: coupled Si-H vibrations in (SiH)X groups, X = 2-4

Rybakov, A.A.; Larin, A.V.

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science, Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 сентября 2016 г.

Авторы: Rybakov A.A., Larin A.V.
Журнал: Molecular Physics
Том: 114
Номер: 15
Год издания: 2016
Издательство: Taylor & Francis
Местоположение издательства: United Kingdom
Первая страница: 2299
Последняя страница: 2304
DOI: 10.1080/00268976.2016.1199821
Аннотация: Microstructure factor (MF) is one of the most important properties of hydrogenated silicon (HS) used in industry. It is expressed via vibrational intensities of low stretching modes (LSM) of Si-H and high stretching modes (HSM) of SiH2/SiH3 bonds, i.e., MF = IHSM/(ILSM + IHSM). Mixed character of HSM due to Si-H contributions (together with SiH2/SiH3 ones) is confirmed by vibrational analysis of Si-H valence bonds in a 120Si:18H model of amorphous HS at the PBE/PAW level. Comparison with precedent solutions for di- and poly-vacancies in microcrystalline hydrogenated silicon shows that the redistribution of its Si-H modes between HSM and LSM bands depends on the extent of perturbation of the vacancies. This relation between the HSM/LSM repartition and HS distortion explains possible MF dependence from short or medium range ordering and its link with crystallization kinetics.
Добавил в систему: Ларин Александр Владимирович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Similarities between amorphous and microcrystalline forms of hydrogenated silicon from periodic DFT modeling: coupled Si-H vibrations in (SiH)X groups, X = 2-4статья

Прикрепленные файлы