|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Структура и свойства напыленных пленок в композиционных образцах SiO2/YSZ/CeO2/YBa2Cu3Oyстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.
- Авторы: Блинова Ю.В., Снигирев О.В., Порохов Н.В., Сударева С.В., Криницина Т.П., Дегтярев М.В.
- Журнал: Физика твердого тела
- Том: 58
- Номер: 8
- Год издания: 2016
- Издательство: Наука
- Местоположение издательства: СПб.
- Первая страница: 1465
- Последняя страница: 1472
- Аннотация: Методом лазерной абляции изготовлен композиционный сверхпроводник SiO2/YSZ/CeO2/YBa2Cu3Oy с критической плотностью тока 7×104 A/cm2 . Методом сканирующей электронной микроскопии на поверхности напыленных пленок обнаружены бугорки, обогащенные медью и кислородом. С помощью просвечивающей электронной микроскопии в сверхпроводящей пленке обнаружена зеренная структура (размеры 0.2 - 0.3 µm) с хорошими контактами по границам, а также системы двойников шириной ∼ 400 Å. Такая структура пленки вместе с высокой текстурой (001) обеспечивает указанную критическую плотность тока.
- Добавил в систему: Порохов Николай Владимирович