PROFILE ANALYSIS APPLICATION IN THE MODELING OF MULTIWAVE DIFFRACTIONстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 января 2016 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст gl0174.pdf 286,9 КБ 5 февраля 2015 [gv_fetisov]

[1] Profile analysis application in the modeling of multiwave diffraction / A. NESTERENKO, S. ZHUKOV, G. FETISOV, L. ASLANOV // Journal of Applied Crystallography. — 1991. — Vol. 24. — P. 910–912. The results of intensity profile analysis of Bragg reflections are used for the calculation of the reflectivity Q(DELTA-theta-ij, sigma-ij) = W(DELTA-theta-ij, sigma-ij)(Lp)ij in the energy transfer equation for multiwave X-ray diffraction in crystals. The diffraction profiles in the profile analysis are fitted by different analytical functions and the fitting results are used for modelling the multiwave diffraction. The results of modelling multiwave diffraction in Si and V3Si crystals with different grades of perfection demonstrate that the method suggested here is sensitive to the content of defects in crystals and can be used not only for simultaneous reflection correction in X-ray structure analysis but also for estimation of single-crystal perfection. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть