О тестах замыкания для контактных схемстатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 августа 2016 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст dm2016-1_05_popkov.pdf 478,5 КБ 14 апреля 2016 [Popkov_KA]

[1] Попков К. А. О тестах замыкания для контактных схем // Дискретная математика. — 2016. — Т. 28, № 1. — С. 87–100. Рассматривается задача синтеза двухполюсных контактных схем, реализующих булевы функции от n переменных и допускающих короткие проверяющие и диагностические тесты относительно замыканий контактов. Установлено, что почти все булевы функции от n переменных реализуемы неизбыточными двухполюсными контактными схемами, допускающими единичные проверяющие, полные проверяющие и единичные диагностические тесты константной длины. Доказано также, что: 1) любую булеву функцию f(x_1,…,x_n) можно реализовать неизбыточной двухполюсной контактной схемой, содержащей не более одной входной переменной, отличной от переменных x_1,…,x_n, и допускающей единичный и полный проверяющий тесты длины не более 2n; 2) любую булеву функцию f(x_1,…,x_n) можно реализовать неизбыточной двухполюсной контактной схемой, содержащей не более двух входных переменных, отличных от переменных x_1,…,x_n, и допускающей единичный диагностический тест длины не более 4n. Ссылка на страницу статьи в Интернете: http://www.mathnet.ru/php/archive.phtml?wshow=paper&jrnid=dm&paperid=1359&option_lang=rus. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть