О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем

Автор: Попков К.А.
Журнал: Препринты ИПМ им. М.В. Келдыша
Номер: 74
Год издания: 2015
Издательство: ИПМ им. М.В. Келдыша РАН
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 1
Последняя страница: 20
Аннотация: Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов в базисе {&,∨,¬}, реализующих булевы функции от n переменных и допускающих короткие единичные диагностические тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит двух. Ссылка на страницу статьи в Интернете: http://library.keldysh.ru/preprint.asp?id=2015-74
Добавил в систему: Попков Кирилл Андреевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА