Разработка микромонитора для испытаний микроэлектроники на стойкость при воздействии тяжёлых заряженных частицстатья

Работа с статьей


[1] Разработка микромонитора для испытаний микроэлектроники на стойкость при воздействии тяжёлых заряженных частиц / М. В. Анохин, В. И. Галкин, В. А. Давыдов и др. // Тезисы 15 Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем Стойкость-2012. Научно-технический сборник. 2012. — 1. — ФГУП НИИП г. Лыткарино, 2012. — С. 207–208.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть