Аннотация:Различными методами исследованы внутренняя структура и ориентация тонких (150−300 µm) гибких
волокон Al2O3, которые используются в качестве подложек для проводов третьего поколения на основе
высокотемпературных сверхпроводников. Показано, что использование сканирующей электронной микро-
скопии, дифракции обратно-отраженных электронов (EBSD), просвечивающей электронной микроскопии, а
также рентгенографии позволяет адекватно установить положение плоскости (1102 ¯ ), необходимой для роста качественной пленки YBa2Cu3Oy.