|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Измерение ширины запрещенной зоны в полупроводниковых сплавах n-Bi1-xSbxстатья
- Авторы: Богданов Е.В., Мартяхин В.А., Трифонов В.И.
- Сборник: Сборник рефератов НИОКР, обзоров, переводов и депонированных рукописей
- Серия: Сер. "ИМ"
- Том: 23
- Год издания: 1986
- Место издания: ЦНИИ "Электроника"
- Добавил в систему: Богданов Евгений Владимирович