Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Идентификация дефектов силиконовых подложек в устройствах микроэлектроники методом дискретных источников
статья
Авторы:
Еремин Ю.А.
, Орлов Н.В.,
Свешников А.Г.
Журнал:
Электромагнитные волны
Номер:
5
Год издания:
1998
Первая страница:
34
Последняя страница:
43
Добавил в систему:
Еремин Юрий Александрович