XPS study of fresh and oxidized GeTe and (Ge,Sn) Te surfaceстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.

Работа с статьей


[1] Xps study of fresh and oxidized gete and (ge,sn) te surface / L. V. Yashina, S. P. Kobeleva, T. B. Shatalova et al. // Solid State Ionics. — 2001. — Vol. 141. — P. 513–522. The energies of Ge 2p(3/2), Ge 3d, Te 3d(5/2), Te 4d(5/2) and Sn 3d(5/2) photopeaks were measured for vacuum-cleaved GeTe and Ge0.9Sn0.1Te crystals, obtained by the 'vapour-solid liquid' technique (VLS). The oxidation of cleaved surfaces in air at ambient temperature and humidity was studied by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The oxidation seems to take place even after few minutes of air exposure. The first stage of the oxidation results in entire Ge oxidation to the oxidation state 4 + and partial Te oxidation to the elemental state. The intermediate oxidation product is supposed to he GeO2-xTex. The second stage is slower than the first one, and it leads to further Te oxidation to 4 + oxidation state and also the significant surface enrichment in Ge. (C) 2001 Elsevier Science B.V. All rights reserved. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть