Scanning tunneling microscope for investigation of surface samples in inspection gas environmentстатья

Работа с статьей


[1] Scanning tunneling microscope for investigation of surface samples in inspection gas environment / Y. N. Moiseev, A. I. Oreshkin, S. I. Oreshkin et al. // Электронная промышленность,. — 1993. — no. 10. — P. 37–38.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть