Ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopeстатья

Работа с статьей


[1] Ultrahigh vacuum scanning tunneling microscope / A. I. Oreshkin, S. I. Oreshkin, S. V. Savinov et al. // Электронная промышленность,. — 1993. — no. 10. — P. 43–44.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть