ToF-SIMS depth profiling of nanoparticles: Chemical structure of core-shell quantum dots

Alexander, G.; Shakhov, A.; Vasin, A.; Astafiev, A.; Antonova, O.; Kochev, S.; Kabachii, Y.; Golub, A.; Nadtochenko, V.

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science, Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 31 июля 2019 г.

Авторы: Alexander Gulin, Aleksander Shakhov, Alexander Vasin, Artyom Astafiev, Olga Antonova, Sergei Kochev, Yurii Kabachii, Alexandre Golub, Victor Nadtochenko
Журнал: Applied Surface Science
Том: 481
Год издания: 2019
Издательство: Elsevier BV
Местоположение издательства: Netherlands
Первая страница: 144
Последняя страница: 150
DOI: 10.1016/j.apsusc.2019.03.097
Аннотация: Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a valuable tool for chemical imaging of surfaces and depth profiling. The main goal of the present work is to develop technique for chemical composition and structure characterization of core-shell quantum dots (QDs) by ToF-SIMS combined with sputter depth profiling. We report a method to acquire 6 nm CdSe/ZnS core-shell QDs depth profiles distinguishing core and shell layers. Obtained selenium and sulfur profiles correlate with core-shell structure characterized by transmission electron microscopy, X-ray diffraction and luminescence spectroscopy. Sample preparation for ToF-SIMS analysis involves accurate QDs deposition on thoroughly cleaned substrate surface, resulted in fairly flat topography and absence of significant aggregations verified by atomic force microscopy. We demonstrate capabilities of proposed technique for analysis of dopant atoms by establishing depth distribution of dopant atom inside Mn/ZnS/CdS quantum dots. Obtained results suggest that QDs do not melt under Cs+ or Bi3+ bombardment.
Добавил в систему: Кочев Сергей Юрьевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

ToF-SIMS depth profiling of nanoparticles: Chemical structure of core-shell quantum dotsстатья

Прикрепленные файлы