|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Giant birefringence in anisotropically nanostructured siliconстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Kunzner N., Kovalev D., Diener J., Gross E., Timoshenko V.Y., Polisski G., Koch F., Fujii M.
- Журнал: Optics Letters
- Том: 26
- Номер: 16
- Год издания: 2001
- Издательство: Optical Society of America
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1265
- Последняя страница: 1267
- DOI: 10.1364/OL.26.001265
- Аннотация: We performed a study of the in-plane birefringence of anisotropically nanostructured Si layers, which exhibit a greater difference in the main value of the anisotropic refractive index than that of natural birefringent crystals. The anisotropy parameters were found to be strongly dependent on the typical size of the Si nanowires used to assemble the layers. This finding opens the possibility of an application of birefringent Si retarders to a wide spectral range for control of the polarization state of light. (C) 2001 Optical Society of America.
- Добавил в систему: Тимошенко Виктор Юрьевич