|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Ellipsometric study of anodic oxide films on alloys of the Ti-Al systemстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Kamkin A.N., Fishgoit L.A., Bukhan'ko N.G., Portnov V.I., Safonov V.A.
- Журнал: Russian Journal of Electrochemistry
- Том: 37
- Номер: 11
- Год издания: 2001
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 1140
- Последняя страница: 1148
- DOI: 10.1023/A:1012755329986
- Аннотация: Anodic oxide films (AOF) on neat titanium and on alloys of the Ti-Al system (Ti-10 at. % Al, Ti-24 at. % Al, Ti-50 at. % Al, Ti-75 at. % Al) formed in borate buffer solution are studied by ellipsometry. A model is proposed, which adequately describes the shape of the alloy surface with and without AOF The model takes into account the roughness factor, allowing one to more correctly determine optical parameters of AOF and dependence of its thickness on anodic potential. It is found that the alloy surface roughness is effectively smoothed with increasing applied potential.
- Добавил в систему: Сафонов Виктор Алексеевич