|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Термические эффекты в поверхностной миграционной нестабильности структур полупроводник-диэлектрикстатья
- Авторы: Славова М.Л., Козлов С.Н., Демидович Г.Б.
- Сборник: "Математическое моделирование и экспериментальное исследование электрической релаксации в элементах интегральных схем
- Год издания: 1985
- Место издания: Изд-во МИЭМ Москва Москва
- Первая страница: 55
- Последняя страница: 61
- Добавил в систему: Козлов Сергей Николаевич