Задача вариации длин транзисторов в стандартной ячейке при многокритериальной оптимизации нанометровых СБИСстатья

Статья опубликована в журнале из перечня ВАК

Работа с статьей


[1] Мелик-Адамян А. Ф., Рыжов А. П. Задача вариации длин транзисторов в стандартной ячейке при многокритериальной оптимизации нанометровых СБИС // Сборник трудов Всероссийских научно-технических конференций "Проблемы разработки перспективных микро и наноэлектронных систем (МЭС)". — 2009. — С. 102–109.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть