Исследование структуры TiN-покрытий методами ядерного обратного рассеяния протонов и рентгеноструктурного анализастатья

Работа с статьей


[1] Исследование структуры tin-покрытий методами ядерного обратного рассеяния протонов и рентгеноструктурного анализа / Л. М. Петров, С. Я. Бецофен, А. Бакуи и др. // 2-ая Всероссийская научно- техническая конференция "Быстрозакаленные материалы и покрытия",17-18 ноября 2003. — Москва, ИТЦ МАТИ-РГТУ им. К.Э. Циолковского, 2003. — С. 175–183.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть