Charge phenomena at the Si/LiNbO3 heterointerface after thermal annealingстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 16 января 2019 г.

Работа с статьей


[1] Charge phenomena at the si/linbo3 heterointerface after thermal annealing / M. Sumets, V. Ievlev, A. Kostyuchenko et al. // Ceramics International. — 2018. — Vol. 44, no. 13. — P. 15058–15064.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть