Analysis of Total Ionizing Dose effects for highly scaled CMOS devices in Low Earth Orbitстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 декабря 2018 г.