Использование полного внутреннего отражения для определения оптических констант и толщины полупрозрачных фотокатодовстатья

Работа с статьей


[1] Использование полного внутреннего отражения для определения оптических констант и толщины полупрозрачных фотокатодов / О. Н. Мельникова, Г. Э. Куфаль, Л. Ф. Плиев, М. В. Фок // Электронная техника. Сер.4. — 1980. — № 1. — С. 10–14.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть