Место издания:г.Черноголовка Московской обл., Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН
Первая страница:276
Последняя страница:277
Аннотация:В настоящей работе методы сканирующей зондовой микроскопии, мес-
сбауэровской спектроскопии, рентгеноструктурного анализа и оптической
микроскопии использованы для изучения характеристик иттрие-
вых феррит-гранатов.