|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Towards on-the-fly Cryo-Electron Microscopy Data Processing by High Performance Data Analysisстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 21 мая 2019 г.
- Авторы: Pichkur Evgeny, Baimukhametov Timur, Teslyuk Anton, Orekhov Anton, Kamyshinsky Roman, Chesnokov Yury, Ilyin Viacheslav, Vasiliev Alexander, Velikhov Vasily
- Журнал: Journal of Physics: Conference Series
- Том: 955
- Год издания: 2018
- Издательство: IOP Publishing
- Местоположение издательства: [Bristol, UK], England
- Первая страница: 012005
- Добавил в систему: Галанина Лидия Ивановна