Cluster secondary ion emission of silicon: an influence of the samples’ dimensional featuresстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 22 февраля 2019 г.

Работа с статьей


[1] Cluster secondary ion emission of silicon: an influence of the samples’ dimensional features / A. Tolstogouzov, M. N. Drozdov, S. F. Belykh et al. // Rapid Communications in Mass Spectrometry. — 2019. — Vol. 33, no. 3. — P. 323–325. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть