Dependence of the Exchange Bias on the Thickness of Antiferromagnetic Layer in the Trilayered NiFe/IrMn/NiFe Thin-filmsстатья

Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 мая 2016 г.

Работа с статьей

[1] Dependence of the exchange bias on the thickness of antiferromagnetic layer in the trilayered nife/irmn/nife thin-films / C. Gritsenko, I. Dzhun, N. Chechenin et al. // Physics procedia. — 2015. — Vol. 75. — P. 1066–1071. The influence of the antiferromagnetic layer thickness on the magnetic properties of the trilayered thin-film structures with the exchange bias phenomenon was studied in the temperature range from 100 up to 295 K. Dependences of the coercive force and exchange bias field on AF-layer thickness were analyzed for all structures with AF layer thickness from 2 nm up to 50 nm at room and low temperatures. The explanation in terms of the anisotropy and thermal energies competition was given for disclosure of an exchange bias for structures with 2 nm AF layer thickness at low temperatures. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть