Investigation of the Atomic, Crystal, and Domain Structures of Materials Based on X-ray Diffraction and Absorption Data: A Reviewстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 января 2016 г.

Работа с статьей


[1] Investigation of the atomic, crystal, and domain structures of materials based on x-ray diffraction and absorption data: A review / M. E. Boiko, M. D. Sharkov, A. M. Boiko et al. // Technical Physics. — 2015. — Vol. 60, no. 11. — P. 1575–1600. Ways to gain and analyze experimental data obtained by X-ray techniques used in material examination are described. Emphasis is on the methods of extended X-ray absorption fine structure, X-ray diffraction, and X-ray small-angle scattering. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть