Исследование профилей распределения имплантированных кластеров алюминия Aln методом ToF-SIMSтезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Данилов А. В. Исследование профилей распределения имплантированных кластеров алюминия aln методом tof-sims // Труды X всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых учёных по напрвлению Диагностика наноматериалов и наноструктур. — 2018.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть