|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Electrical breakdowns of MOS structures: A primary cause of chip degradation in plasmaстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 мая 2016 г.
- Авторы: Ryabyi V.A., Savinov V.P., Sporykhin A.A., Yakunin V.G.
- Журнал: Russian Microelectronics
- Том: 25
- Номер: 2
- Год издания: 1996
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 115
- Последняя страница: 121
- Добавил в систему: Якунин Валерий Георгиевич