Visual TCAD simulation of total ionizing dose effects on advanced CMOS devices for space applicationsстатья

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 16 января 2019 г.

Работа с статьей


[1] Muhammad N. H., Muhammad S., Chechenin N. G. Visual tcad simulation of total ionizing dose effects on advanced cmos devices for space applications // Journal of Aeronautics & Aerospace Engineering. — 2018. — Vol. 7. — P. 86–86. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть