|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
“A scanning high-Tc dc SQUID microscopy of the YBCO thin-film samples at 77K,”статья
- Авторы: Gudoshnikov S.A., Andreev K.E., Ukhansky N.N., Matveets L.V., Muck M., Dechert J., Heiden C., Snigirev O.V.
- Сборник: Inst. Physics Conf. Ser
- Том: 167
- Год издания: 2000
- Место издания: IOP Pub. Ltd Bristol, UK, England
- Первая страница: 541
- Последняя страница: 544
- Добавил в систему: Снигирев Олег Васильевич