DEPTH PROFILING OF FULLERENE-CONTAINING STRUCTURES BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

DEPTH PROFILING OF FULLERENE-CONTAINING STRUCTURES BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRYстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science, Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 августа 2018 г.

Авторы: Drozdov M.N., Drozdov Y.N., Pakhomov G.L., Travkin V.V., Yunin P.A., Razumov V.F.
Журнал: Technical Physics Letters
Том: 39
Год издания: 2013
Первая страница: 1097
Последняя страница: 1100
Добавил в систему: Разумов Владимир Федорович