Аннотация:В статье рассмотрено развитие методов компьютерного анализа микроструктуры грунтов по изображениям, полученным с помощью растрового электронного микроскопа (РЭМ). Описана система количественного анализа микроструктуры, состоящая из РЭМ и программного обеспечения (ПО) и базирующаяся на широком использовании авторских методов обработки и анализа РЭМ-изображений. Помимо хорошо известных планиметрических характеристик микроструктуры грунтов, в результате анализа могут быть также получены показатели формы песчаных и пылеватых зерен, коэффициент извилистости поровых каналов, значения удельной поверхности и проницаемости и др. Кроме того, реализована возможность анализа полидисперсных и неоднородных микроструктур. Разработка дополнительных методов стереометрического анализа позволила проводить трехмерную реконструкцию микрорельефа поверхности образца, получать данные о высотах микрорельефа, а также получать другие объемные характеристики микроструктуры.