Исследование Si (001) подложек, подвергнутых плазменно-иммерсионно ионной имплантации He+ методом рентгеновской рефлектометриистатья

Работа с статьей


[1] Исследование si (001) подложек, подвергнутых плазменно-иммерсионно ионной имплантации he+ методом рентгеновской рефлектометрии / А. А. Ломов, А. В. Мяконьких, А. П. Орешко и др. // Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики. — Великий Новгород, 2015. — С. 135–138.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть