Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Характеризация внутренних пористых кремниевых слоев, образованных высокодозовой имплантацией ионов гелия методом рентгеновской рефлектометрии
тезисы доклада
Авторы:
Ломов А.А.
,
Орешко А.П.
Сборник:
Современные методы исследования структуры материалов и их применение в материаловедении
Тезисы
Год издания:
2015
Место издания:
НИТУ МИСиС Москва
Первая страница:
31
Последняя страница:
35
Добавил в систему:
Орешко Алексей Павлович