|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Investigation of SiO2/Si Structure Combine Implanted by Zn+ and O+ Ions. Oral presentтезисы доклада
- Авторы: Kulikauskas V., Zatekin V., Privezentsev V., Zinenko V., Agafonov Yu, Egorov V., Steinman E., Tereshchenko A.
- Сборник: Proc. of the Intern. Conf. on Advanced Mater. and Technol. (ICAMT 2015) 21-23 October
- Тезисы
- Год издания: 2015
- Место издания: Tbilisi, Georgia
- Первая страница: 60
- Последняя страница: 63
- Добавил в систему: Затекин Владимир Витальевич