|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Complete tests relative to displacing faults of inputs of circuitsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 марта 2016 г.
- Автор: Morozov E.V.
- Журнал: Moscow University Mathematics Bulletin
- Том: 70
- Номер: 1
- Год издания: 2015
- Издательство: Allerton Press Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 37
- Последняя страница: 40
- DOI: 10.3103/S0027132215010076
- Аннотация: The paper is focused on faults of circuit inputs such that the output value of fault circuits depends only on correct inputs. It is shown that the Shannon function of the length of the detecting test for such faults is equal to 2n − log n + O(log log n) and the Shannon function of the length of the diagnostic test is asymptotically equal to 2^n.
- Добавил в систему: Романов Дмитрий Сергеевич