X-Ray microscopy with extremely asymmetric reflection from a crystalстатья

Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 февраля 2016 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст en-02-57-5-060.pdf 169,4 КБ 22 октября 2015 [andrey_konovko]

[1] Андреев А. В., Konovko A. A. X-ray microscopy with extremely asymmetric reflection from a crystal // Moscow University Physics Bulletin. — 2002. — Vol. 57, no. 5. — P. 60–60. The feasibility of obtaining a submicron resolution in the X-ray microscope using as an optical element a crystal-monochromator in an extremely asymmetric scheme of diffraction has been demonstrated. The dependence of resolution on unit parameters has been studied. The optimal geometry of the experiment and the wavelengths for obtaining a submicron resolution has been determined.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть