Инновации в спектрометрии электронной эмиссии под воздействием рентгеновского излучения (XIEES)статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.
Аннотация:В последние годы наблюдается серьезная необходимость контроля над локальной атомной и электронной структурой вещества независимо от его агрегатного состояния. Эффективные методы, направленные на изучение ближнего порядка, основаны на явлениях, сопровождаемых интерференцией вторичных электронов, возбужденных первичным рентгеновским излучением. Область этих методов называется XAFS (тонкая структура рентгеновского спектра поглощения). Эти методы реально основаны на применении синхротронного излучения и реализованы в двух режимах: анализ „на прострел“ и регистрация вторичных эффектов. Говорят лишь о двух подобных эффектах: рентгеновской флюоресценции и фотоэффекте. Доступ к синхротронным ускорителям для большинства пользователей проблематичен, что ведет к необходимости развития лабораторных устройств с возможностью непосредственного доступа. Поскольку мощность лабораторных устройств намного меньше, чем у синхротронов, необходимо применять детекторы вторичных электронов намного большей эффективности. Также привлекает внимание получение энергии с высоким пространственным разрешением. Канальные электронные умножители и многоканальные платы этого не обеспечивают. Поэтому был разработан улучшенный электронный детектор, анализирующий фотоэффект под ускоряющим полем.
ISSN: 0015-3222