|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Анализ карбонитридных материалов с использованием спектрометрии обратного расеяния и атомов отдачи, ЭПР и электронографиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Беспалова О.В., Богомолова Л.Д., Борисов А.М., Затекин В.В., Зоров Н.Б., Кравченко О.В., Красильникова Н.А., Кузяков Ю.Я., Куликаускас В.С., Питиримова Е.А., Романовский Е.А., Серков М.В., Хохлов А.Ф.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 6
- Год издания: 2002
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 84
- Последняя страница: 89
- Аннотация: Приведены результаты исследования тонкопленочных и массивных карбонитридных материалов с использованием методов спектрометрии резерфордовского и ядерного обратного рассеяния ионов гелия и протонов, спектрометрии быстрых атомов отдачи, дифракции быстрых электронов на отражение и электронного парамагнитного резонанса
- Добавил в систему: Беспалова Ольга Викторовна