Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Применение полупроводниковых спектрометров для элементного анализа в электронной микроскопии
статья
Автор:
Ходан А.Н.
Журнал:
Известия АН СССР. Серия физическая
Том:
41
Номер:
3
Год издания:
1977
Первая страница:
1052
Последняя страница:
1054
Добавил в систему:
Ходан Анатолий Николаевич