|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Применение полупроводниковых спектрометров для элементного анализа в электронной микроскопиистатья
- Автор: Ходан А.Н.
- Журнал: Известия АН СССР. Серия физическая
- Том: 41
- Номер: 3
- Год издания: 1977
- Первая страница: 1052
- Последняя страница: 1054
- Добавил в систему: Ходан Анатолий Николаевич