Моделирование изотропной метапленки с помощью тонкой пленки с частотно зависимой толщинойстатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 декабря 2018 г.

Работа с статьей


[1] Домбровская Ж. О., Журавлев А. В. Моделирование изотропной метапленки с помощью тонкой пленки с частотно зависимой толщиной // Ядерная физика и инжиниринг. — 2017. — Т. 8, № 1. — С. 122–126. Продемонстрировано, что в случае малого, но ненулевого поглощения изотропной метапленки, ее структура может быть заменена эквивалентной очень тонкой пленкой с частотно зависимой толщиной. Предложен алгоритм, позволяющий вычислить эту толщину и эффективные материальные параметры соответствующей тонкой пленки. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть