Место издания:Москва, МГУ им. М.В. Ломоносова, Физический факультет
Первая страница:49
Последняя страница:53
Аннотация:Рассмотрен случай применения гибридной схемы метода дискретных источников (МДИ) для анализа рассеивающих свойств сильно вытянутых наночастиц, расположенных на подложке. Представлено численное сравнение диаграмм рассеяния с классической схемой МДИ, подтверждающее достоверность полученных результатов.