ПРИМЕНЕНИЕ СПЕКТРОМЕТРИИ ОБРАТНОГО РАССЕЯНИЯ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОДУГОВОГО ОКСИДИРОВАНИЯ КОНДЕНСАТОРНОЙ ФОЛЬГИстатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.

Работа с статьей


[1] ПРИМЕНЕНИЕ СПЕКТРОМЕТРИИ ОБРАТНОГО РАССЕЯНИЯ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОДУГОВОГО ОКСИДИРОВАНИЯ КОНДЕНСАТОРНОЙ ФОЛЬГИ / А. М. Борисов, В. Г. Востриков, К. Е. Кирикова и др. // Физика и химия обработки материалов. — 2007. — № 2. — С. 46–49. Методом обратного рассеяния протонов изучено влияние параметров микродугового оксидирования на состав и структуру поверхностных слоев конденсаторной алюминиевой фольги. Показано, что увеличение времени оксидирования с 2 до 4 мин приводит к увеличению толщины модифицированного слоя более чем в 2 раза, при этом толщина оксидного слоя возрастает на ∼30%.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть