|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплататезисы доклада
- Авторы: Кривенцов В.В., Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Мухгалин В.В., Романов Э.А., Максимовский Е.А., Якимчук Е.П., Новгородов Б.Н., Мезенцев Н.А.
- Сборник: Спектрометрические методы анализа
- Тезисы
- Год издания: 2013
- Первая страница: 50
- Последняя страница: 50
- Добавил в систему: Бельтюков Артемий Николаевич